青海ICT改造-億昇精密 ：

ICT在線(xiàn)測(cè)試儀的相關(guān)介紹

性能、安全穩(wěn)定，超高速I(mǎi)CT在線(xiàn)測(cè)試儀大程度檢出短/開(kāi)路、錯(cuò)件、缺件、空焊、反裝等電子基板組裝缺陷。Windows XP操作系統(tǒng)、人性化界面、操作方便。采用電子開(kāi)關(guān)+機(jī)械式開(kāi)關(guān)，壽命極長(zhǎng)，測(cè)試速度超快，待測(cè)板安全性高；或者采用REED RELAY，耐壓性強(qiáng)，隔離效果好。電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)生成開(kāi)/短路、及IC保護(hù)二極管之測(cè)試數(shù)據(jù)。

企業(yè)視頻展播，請(qǐng)點(diǎn)擊播放

視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

       ICT測(cè)試盲點(diǎn)的原因。

　　1.當(dāng)電阻與跳線(xiàn)并聯(lián)時(shí)，無(wú)法測(cè)量電阻

　　2.無(wú)法測(cè)量與跳線(xiàn)并聯(lián)的電感（或變壓器，繼電器）。

　　3.電感的錯(cuò)誤部分是跳線(xiàn)或短路，無(wú)法測(cè)試。

　　4.小型電容器與小型電阻器并聯(lián)銜接，無(wú)法測(cè)量小型電容器。

　　5.電感與電阻器或電容器及其他組件并聯(lián)銜接。電阻或其他組件無(wú)法測(cè)量。

       6.二極管以相同方向并聯(lián)銜接，并且檢測(cè)不到缺失的部件之一或空焊。

　　7.不能測(cè)量與小電阻并聯(lián)組件并聯(lián)的組件。

ICT測(cè)試盲點(diǎn)的原因

8.電容器的電容太小，測(cè)試通常不準(zhǔn)確。

9.IC，晶體振蕩器，可調(diào)電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無(wú)法測(cè)量或無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試。

10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)銜接，無(wú)法測(cè)量二極管和晶體管。

11.組件的上下點(diǎn)在同一個(gè)短路組中，并且這些組件不可測(cè)試。

12.在IC空焊測(cè)試過(guò)程中，假設(shè)被測(cè)IC的引腳和電容器并聯(lián)銜接，則該引腳假設(shè)斷開(kāi)則不能中止測(cè)試。

13.小電容器與大電容器（C1//C2）并聯(lián)銜接，無(wú)法測(cè)量小電容器。普通來(lái)說(shuō)，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測(cè)的。